исследование просвечивающим электронным микроскопом

исследование просвечивающим электронным микроскопом
tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop-Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным микроскопом, n pranc. analyse par microscope électronique à transparence, f

Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. . 2000.

Игры ⚽ Нужно сделать НИР?

Look at other dictionaries:

  • Durchstrahlungselektronenmikroskop-Untersuchung — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • analyse par microscope électronique à transparence — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • transmission electron microscope study — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным микроскопом, n pranc. analyse par microscope… …   Radioelektronikos terminų žodynas

  • Растровый электронный микроскоп — …   Википедия

  • Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope)  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес …   Википедия

  • Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope)  класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом …   Википедия

  • Дезоксирибонуклеиновая кислота — Двойная спираль ДНК Дезоксирибонуклеиновая кислота (ДНК) макромолекула(одна из трех основных, две другие РНК и белки), обеспечивающая хранение, передачу из поколения в поколение и реализацию генетической программы развития и функционирования… …   Википедия

Share the article and excerpts

Direct link
Do a right-click on the link above
and select “Copy Link”