исследование просвечивающим электронным микроскопом
- исследование просвечивающим электронным микроскопом
- tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu
statusas T sritis radioelektronika
atitikmenys: angl. transmission electron microscope study
vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop-Untersuchung, f
rus. исследование просвечивающим электронным микроскопом, n
pranc. analyse par microscope électronique à transparence, f
Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“.
Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas.
2000.
Look at other dictionaries:
Durchstrahlungselektronenmikroskop-Untersuchung — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… … Radioelektronikos terminų žodynas
analyse par microscope électronique à transparence — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… … Radioelektronikos terminų žodynas
transmission electron microscope study — tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным… … Radioelektronikos terminų žodynas
tyrimas peršviečiamuoju elektroniniu mikroskopu — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. transmission electron microscope study vok. Durchstrahlungselektronenmikroskop Untersuchung, f rus. исследование просвечивающим электронным микроскопом, n pranc. analyse par microscope… … Radioelektronikos terminų žodynas
Растровый электронный микроскоп — … Википедия
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope) класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом … Википедия
Дезоксирибонуклеиновая кислота — Двойная спираль ДНК Дезоксирибонуклеиновая кислота (ДНК) макромолекула(одна из трех основных, две другие РНК и белки), обеспечивающая хранение, передачу из поколения в поколение и реализацию генетической программы развития и функционирования… … Википедия